| 一种力电热多场耦合下微电子产品可靠性测试方法 |
| 郭敬东,祝清省,刘志权,崔学顺,吴迪,张磊,曹丽华
|
| 2016-05-25
|
| 专利权人 | 郭敬东，祝清省，刘志权，崔学顺，吴迪，张磊，曹丽华
|
| 公开日期 | 2016-05-25
|
| 授权国家 | 中国
|
| 专利类型 | 发明
|
| 摘要 | 一种力电热多场耦合下微电子产品可靠性测试方法 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所
|
| 申请日期 | 2012-12-21
|
| 语种 | 中文
|
| 申请号 | 201210563466.3
|
| 文献类型 | 专利
|
| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/78771
|
| 专题 | 中国科学院金属研究所
|
推荐引用方式
GB/T 7714 |
郭敬东,祝清省,刘志权,崔学顺,吴迪,张磊,曹丽华. 一种力电热多场耦合下微电子产品可靠性测试方法[P]. 2016-05-25.
|
| 个性服务 |
| 推荐该条目 |
| 保存到收藏夹 |
| 查看访问统计 |
| 导出为Endnote文件 |
| 谷歌学术 |
| 谷歌学术中相似的文章 |
| [郭敬东,祝清省,刘志权,崔学顺,吴迪,张磊,曹丽华]的文章 |
| 百度学术 |
| 百度学术中相似的文章 |
| [郭敬东,祝清省,刘志权,崔学顺,吴迪,张磊,曹丽华]的文章 |
| 必应学术 |
| 必应学术中相似的文章 |
| [郭敬东,祝清省,刘志权,崔学顺,吴迪,张磊,曹丽华]的文章 |
| 相关权益政策 |
| 暂无数据 |
| 收藏/分享 |
|
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论