| 精确测定材料中偏聚第二相分布均匀性的方法 | |
| 李阁平; 张利峰; 李明远; 王练; 彭胜; 吴松全; 高博; 顾恒飞; 庞丽侠 | |
| 2018-09-04 | |
| 专利权人 | 中国科学院金属研究所 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 专利号 | 201410428916.7 |
| 文献类型 | 专利 |
| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/80071 |
| 专题 | 中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李阁平,张利峰,李明远,等. 精确测定材料中偏聚第二相分布均匀性的方法. 201410428916.7[P]. 2018-09-04. |
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