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精确测定材料中偏聚第二相分布均匀性的方法 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 201410428916.7, 申请日期: 2018-09-04,
Authors:  李阁平;  张利峰;  李明远;  王练;  彭胜;  吴松全;  高博;  顾恒飞;  庞丽侠
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测定晶内第二相在基体中分布均匀性的方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2016-08-17, 公开日期: 2016-08-17
Authors:  李阁平;  张利峰;  李明远;  王练;  彭胜;  吴松全;  高博;  顾恒飞;  庞丽侠
Favorite  |  View/Download:38/0  |  Submit date:2017/08/22
电子背散射衍射分析技术测试锆合金中科恩系数的方法 专利
专利类型: 发明专利, 申请日期: 2013-02-13, 公开日期: 2013-02-13
Authors:  彭胜, 袁改焕, 王练, 李明远, 李阁平, 岳强, 李刚, 高博 and 庞丽侠
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