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用正电子湮没技术研究深低温下Al—Li—Cu—Mg—Zr合金中的缺陷和电子密度 期刊论文
核技术, 1996, 期号: 3, 页码: 160-163
作者:  吴伟明,高英俊,邓文,许少杰,冯冠之,钟夏平,蒋晓军
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正电子寿命谱  Al-li-cu-mg-zr合金  深低温  缺陷  体电子密度