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Microstructure and Electric Conductance of Mg-2(Sn, Si) Thin Films by Sputtering 期刊论文
ACTA METALLURGICA SINICA, 2019, 卷号: 55, 期号: 11, 页码: 1469-1476
作者:  Song Guihong;  Li Guipeng;  Liu Qiannan;  Du Hao;  Hu Fang
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Mg-2(Sn, Si) film  Mg content  conductivity  mobility  XPS  
溅射沉积Mg_2(Sn,Si)薄膜组织结构与导电性能 期刊论文
金属学报, 2019, 卷号: 55, 期号: 11, 页码: 1469-1476
作者:  宋贵宏;  李贵鹏;  刘倩男;  杜昊;  胡方
收藏  |  浏览/下载：135/0  |  提交时间：2021/02/02
Mg2(Sn,Si)薄膜  Mg含量  电导率  迁移率  XPS