中文版 | English

在结果中检索

IMR OpenIR

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条 帮助

已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
六角GaN薄膜中的晶体缺陷结构研究 期刊论文
电子显微学报, 1998, 期号: 5, 页码: 85-86
作者:  王绍青,刘全朴,王元明
收藏  |  浏览/下载：79/0  |  提交时间：2012/04/12
晶体缺陷:6491  Gan薄膜:5257  分子束外延:2966  原子像:2587  高分辨:2548  位错结构:1896  电子显微镜:1364  刃型:1099  外延生长:895  缺陷结构:872