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双壁碳纳米管的电子显微学研究
期刊论文
电子显微学报, 2007, 期号: 4, 页码: 327-334
作者:
张婧娉
;
HAKAN Deniz
;
秦禄昌
;
刘庆丰
;
任文才
;
成会明
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浏览/下载:86/0
  |  
提交时间:2012/04/12
碳纳米管
透射电子显微术
电子衍射
电子辐照
螺旋度
硅中氧沉淀的高分辨电镜研究
期刊论文
科学通报, 1987, 期号: 15, 页码: 1198-1199
作者:
肖治纲,蔺锡伟,柯俊,秦禄昌
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浏览/下载:111/0
  |  
提交时间:2012/04/12
高分辨电镜研究:6353
方法研究:4669
氧沉淀:4372
集成电路工艺:2400
直拉硅单晶:2231
预先热处理:1658
沉淀速率:1325
硅中氧:1179
有害杂质:1139
新技术:875
掺铜的硫化锌缺陷结构的高分辨电子显微术研究
期刊论文
电子显微学报, 1984, 期号: 4, 页码: 13
作者:
秦禄昌
;
李斗星
;
郭可信
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浏览/下载:116/0
  |  
提交时间:2012/04/12
高分辨电子显微术:6168
硫化锌晶体:5148
缺陷结构:4295
掺铜:2897
原子团:1381
发光材料:1217
发光性能:1204
晶体结构:1189
晶体缺陷:1180
高分辨象:966