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钙钛矿型氧化物薄膜及多层膜中结构与缺陷的电子显微学研究 学位论文
, 金属研究所: 中国科学院金属研究所, 2008
作者:  卓木金
收藏  |  浏览/下载：109/0  |  提交时间：2012/04/10
透射电子显微术  钙钛矿氧化物  显微结构  
HfO_2/Si(001)界面层的TEM研究 期刊论文
电子显微学报, 2006, 期号: S1, 页码: 95-96
作者:  卓木金;  马秀良
收藏  |  浏览/下载：73/0  |  提交时间：2012/04/12
界面层厚度:7807  栅介质层:3216  相对介电常数:2195  薄膜:2048  二氧化硅:1902  氧化铪:1889  透射电子显微镜:1813  等效厚度:1778  退火温度:1778  化学成分:1696  
HfO2/Si(001)界面层的TEM研究 会议论文
电子显微学报, 沈阳, 2006-08-26
作者:  卓木金;  马秀良
收藏  |  浏览/下载：63/0  |  提交时间：2013/08/21
栅氧化层  氧化硅  高k介质材料  隧穿效应  栅介质层  微电子技术  
炉渣的光谱分析 期刊论文
金属学报, 1959, 期号: 2, 页码: 169-172
作者:  李诗(钅卓),周熙宁,何怡贞
收藏  |  浏览/下载：117/0  |  提交时间：2012/04/12
光谱分析:6195  溶液法:4971  碳电极:2987  组成变化:2510  分析速度:2319  光谱法:2290  化学方法:2150  光谱化学:1844  内标元素:1477  电炉渣:915  
合金钢中微量希土元素(镧、铈、镨、钕)的定量光谱分析 期刊论文
金属学报, 1959, 期号: 1, 页码: 81-86
作者:  李诗(钅卓),王玉梅
收藏  |  浏览/下载：128/0  |  提交时间：2012/04/12
元素分析:4679  化学分离:4462  光谱灵敏度:3539  固体样品:3399  定量光谱分析:3037  光谱测定:2987  直接激发:2297  仪器测量:2281  汞阴极电解:1655  希土:1651