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Measurement of crystal thickness and orientation from selected-area Fourier transformation of a high-resolution electron hologram 期刊论文
MICRON, 2006, 卷号: 37, 期号: 1, 页码: 67-72
作者:  Du, K;  Wang, YM;  Lichte, H;  Ye, HQ
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electron holography  high-resolution transmission electron microscopy  quantitative electron microscopy  
Measurement of crystal thickness and orientation from selected-area Fourier transformation of a high-resolution electron hologram 期刊论文
MICRON, 2006, 卷号: 37, 期号: 1, 页码: 67-72
作者:  Du, K;  Wang, YM;  Lichte, H;  Ye, HQ
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electron holography  high-resolution transmission electron microscopy  quantitative electron microscopy  
Measurement of crystal thickness and orientation from selected-area Fourier transformation of a high-resolution electron hologram 期刊论文
MICRON, 2006, 卷号: 37, 期号: 1, 页码: 67-72
作者:  Du, K;  Wang, YM;  Lichte, H;  Ye, HQ
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electron holography  high-resolution transmission electron microscopy  quantitative electron microscopy  
Correction of aberration for a high-resolution electron hologram by means of the amplitude contrast criterion of image wave 期刊论文
Micron, 2002, 卷号: 33, 期号: 1, 页码: 15-21
作者:  Y. M. Wang;  K. Du;  H. Q. Ye;  H. Lichte
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Electron Microscopy  Correction Of Aberration  Amplitude Contrast  Criterion  Microscope  Space