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Microstructural evolution and failure mechanism of 62Sn36Pb2Ag/Cu solder joint during thermal cycling
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 99, 页码: 12-18
作者:
Li, Qi-hai
;
Li, Cai-Fu
;
Zhang, Wei
;
Chen, Wei-wei
;
Liu, Zhi-Qua
收藏
|
浏览/下载：132/0
|
提交时间：2021/02/02
62Sn36Pb2Ag solder joint
Microstructural evolution
Failure analysis
Intermetallic compound (IMC)
Thermal cycling
Microstructural evolution and failure mechanism of 62Sn36Pb2Ag/Cu solder joint during thermal cycling
期刊论文
MICROELECTRONICS RELIABILITY, 2019, 卷号: 99, 页码: 12-18
作者:
Li, Qi-hai
;
Li, Cai-Fu
;
Zhang, Wei
;
Chen, Wei-wei
;
Liu, Zhi-Qua
收藏
|
浏览/下载：125/0
|
提交时间：2021/02/02
62Sn36Pb2Ag solder joint
Microstructural evolution
Failure analysis
Intermetallic compound (IMC)
Thermal cycling
