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压痕诱发单晶硅非晶化相变的透射电镜观察 期刊论文
电子显微学报, 1998, 期号: 5, 页码: 81-82
作者:  吴亚桥,徐永波
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单晶硅:5596  透射电镜观察:5055  非晶化:4569  选区电子衍射:2282  相变:2118  维氏压痕:2067  非晶硅:1913  显微压痕:1383  形貌像:1267  非晶区:1042