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六角GaN薄膜中的晶体缺陷结构研究 期刊论文
电子显微学报, 1998, 期号: 5, 页码: 85-86
作者:  王绍青,刘全朴,王元明
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晶体缺陷:6491  Gan薄膜:5257  分子束外延:2966  原子像:2587  高分辨:2548  位错结构:1896  电子显微镜:1364  刃型:1099  外延生长:895  缺陷结构:872  
μ相(001)取向异常衍射点及条纹来源的高分辨电镜研究 期刊论文
电子显微学报, 1986, 期号: 3, 页码: 131
作者:  叶恒强
收藏  |  浏览/下载：75/0  |  提交时间：2012/04/12
高分辨电镜研究:4223  衍射图:3568  非基面层错:3564  取向:3395  超结构:3330  大角度倾转:2954  衍射条纹:2926  来源:2548  棱柱面:2317  异常:2224