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Applications of microdiffraction related to HREM 期刊论文
Microscopy Research and Technique, 1998, 卷号: 40, 期号: 2, 页码: 122-135
作者:  J. Zhu;  X. F. Duan;  D. X. Li;  H. Q. Ye
收藏  |  浏览/下载：92/0  |  提交时间：2012/04/14
Coherence Of Source  Domain Boundary  Stacking Fault  Interference  Fringe  Strain Field  Beam Electron-diffraction  Strained-layer Superlattices  Antiphase  Domain Boundaries  Elastic Relaxation  Micro-diffraction  Crystals  Dislocations  Distortions  Specimens  Phase