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Characterization of oxygen vacancies and their migration in Ba-doped Pb(Zr(0.52)Ti(0.48))O(3) ferroelectrics 期刊论文
Journal of Applied Physics, 2009, 卷号: 105, 期号: 6
作者:  M. F. Zhang;  Y. Wang;  K. F. Wang;  J. S. Zhu;  J. M. Liu
Adobe PDF(1058Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：89/0  |  提交时间：2012/04/13
Barium  Dielectric Losses  Dielectric Polarisation  Dielectric  Relaxation  Doping Profiles  Electrical Conductivity  Ferroelectric  Ceramics  Ferroelectric Thin Films  Fluctuations  Lead Compounds  Vacancies (Crystal)  Lead-zirconate-titanate  Thin-films  Dielectric Characterization  Single-crystal  Fatigue  Electrodes  Capacitors  Ceramics