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Structural and microstructural analyses of crystalline Er2O3 high-k films grown on Si (001) by laser molecular beam epitaxy 期刊论文
ACTA MATERIALIA, 2011, 卷号: 59, 期号: 4, 页码: 1644-1650
作者:  Wang, X.;  Zhu, Y. L.;  He, M.;  Lu, H. B.;  Ma, X. L.
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Thin films  High-resolution electron microscopy  Energy-filtered transmission microscopy  Interface  Dielectrics  
Structural and microstructural analyses of crystalline Er(2)O(3) high-k films grown on Si (001) by laser molecular beam epitaxy 期刊论文
Acta Materialia, 2011, 卷号: 59, 期号: 4, 页码: 1644-1650
作者:  X. Wang;  Y. L. Zhu;  M. He;  H. B. Lu;  X. L. Ma
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Thin Films  High-resolution Electron Microscopy  Energy-filtered  Transmission Microscopy  Interface  Dielectrics  Thin-films  Electrical-properties  Oxide-films  Silicon  Si(001)  Dielectrics  Interface  
Evidence of phase separation correlated with nanocrystallization in Al85Ni5Y6Fe2Co2 metallic glass 期刊论文
Scripta Materialia, Scripta Materialia, 2006, 2006, 卷号: 55, 55, 期号: 5, 页码: 469-472, 469-472
作者:  Y. B. Wang;  H. W. Yang;  B. B. Sun;  B. Wu;  J. Q. Wang;  M. L. Sui;  E. Ma
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Metallic Glass  Metallic Glass  Phase Separation  Phase Separation  Transmission Electron Microscopy  Transmission Electron Microscopy  Z-contrast Imaging  Z-contrast Imaging  Energy-filtered Imaging  Energy-filtered Imaging  Amorphous-alloys  Amorphous-alloys  Crystallization  Crystallization  Aluminum  Aluminum  Strength  Strength