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High-Resolution X-Ray Diffraction Analysis of Epitaxial Films 期刊论文
ACTA METALLURGICA SINICA, 2020, 卷号: 56, 期号: 1, 页码: 99-111
作者:  Li Changji;  Zou Minjie;  Zhang Lei;  Wang Yuanming;  Wang Sucheng
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film growth  epitaxial film  high-resolution X-ray diffraction  reciprocal space mapping