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Microstructure studies of TiO2-Ag-TiO2-SiO low-emissivity films at nanometer scale 期刊论文
ACTA METALLURGICA SINICA, 2001, 卷号: 37, 期号: 4, 页码: 337-339
作者:  Zhan, Q;  Yu, R;  He, LL;  Li, DX;  Guo, XN
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low-emissivity film  microstructure  HREM  nanometer-beam analysis