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Microstructural evolution of [PbZrxTi1-xO3/PbZryTi1-yO3](n) epitaxial multilayers (x/y=0.2/0.4, 0.4/0.6) - dependence on layer thickness 期刊论文
PHILOSOPHICAL MAGAZINE, 2010, 卷号: 90, 期号: 10, 页码: 1359-1372
作者:  Zhu, Y. L.;  Zheng, S. J.;  Ma, X. L.;  Feigl, L.;  Alexe, M.;  Hesse, D.;  Vrejoiu, I.
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ferroelectrics  transmission electron microscopy  microstructure