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循环形变单晶体驻留滑移带的演化 会议论文
疲劳、断裂、工程设计(2002), 西安, 2002-10-14
作者:  杨继红;  李守新;  李勇;  柯伟
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循环形变cu单晶  驻留滑移带  模拟  内应力场  疲劳损伤  扫描电镜电子通道衬度  
疲劳Cu单晶驻留滑移带的演化及其内应力场 期刊论文
金属学报, 2001, 期号: 5, 页码: 507-511
作者:  杨继红,李勇,李守新,马常祥,王刚,柯伟
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疲劳cu单晶  驻留滑移带的演化  内应力场  位错结构模拟