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软X射线质量吸收系数的测定 期刊论文
材料研究学报, 1999, 期号: 6, 页码: 621-626
作者:  尚玉华,刘志东,徐乐英
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质量吸收系数  软x射线  薄膜  质量厚度  电子探针  
薄膜厚度的电子探针测量软件与应用 期刊论文
金属学报, 1997, 期号: 4, 页码: 443-448
作者:  尚玉华,郭延风,刘志东,徐乐英
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电子探针  金属薄膜  质量厚度  
表面离化函数Φ(0)的研究 期刊论文
电子显微学报, 1994, 期号: 4, 页码: 287-290
作者:  郭延风,徐乐英
收藏  |  浏览/下载:88/0  |  提交时间:2012/04/12
表面离化函数  电子背散射系数  质量厚度  
薄膜厚度的电子探针测定 期刊论文
电子显微学报, 1992, 期号: 1, 页码: 26-32
作者:  郭延风;  徐乐英;  杨淑华
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薄膜厚度:4816  电子探针分析:4651  加速电压:3493  归一化:3199  化学分析法:3047  激发深度:2768  质量厚度:2290  测定:1914  公式计算:1851  重量法:1851