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Frequency-dependent failure mechanisms of nanocrystalline gold interconnect lines under general alternating current 期刊论文
Journal of Applied Physics, 2014, 卷号: 116, 期号: 10
作者:  X. M. Luo;  B. Zhang;  G. P. Zhang
收藏  |  浏览/下载：170/0  |  提交时间：2015/01/14
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