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Precise Cr-marker investigation on the reactive interface in the eutectic SnIn solder joint
期刊论文
Materials Letters, 2014, 卷号: 121, 页码: 185-187
作者:
F. F. Tian
;
P. J. Shang
;
Z. Q. Liu
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提交时间:2014/07/03
Interfaces
Intermetallic Alloys And Compounds
Diffusion
Kirkendall
Void
Snin Solder
Cu Substrate
Growth-kinetics
Snagcu Solder
Diffusion
Compound
Identification
Ni
Microstructural Study on Kirkendall Void Formation in Sn-Containing/Cu Solder Joints During Solid-State Aging
期刊论文
Microscopy and Microanalysis, 2013, 卷号: 19, 页码: 105-108
作者:
Z. Q. Liu
;
P. J. Shang
;
F. F. Tan
;
D. X. Li
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浏览/下载:193/0
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提交时间:2014/04/18
Lead-free Solder
Kirkendall Void
Intermetallic Compound (Imc)
Diffusion
Interface
Transmission Electron Microscopy (Tem)
Cu
Intermetallic compound identification and Kirkendall void formation in eutectic SnIn/Cu solder joint during solid-state aging
期刊论文
Philosophical Magazine Letters, 2011, 卷号: 91, 期号: 6, 页码: 410-417
作者:
P. J. Shang
;
Z. Q. Liu
;
D. X. Li
;
J. K. Shang
收藏
  |  
浏览/下载:84/0
  |  
提交时间:2012/04/13
Diffusion
Intermetallic Compounds
Snin Solder
Interfaces
Kirkendall
Void
Cu-sn
Interface
Reliability
Diffusion
Systems
Growth