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Interfacial structure of V2AlC thin films deposited on (11(2)over-bar0)-sapphire 期刊论文
SCRIPTA MATERIALIA, 2011, 卷号: 64, 期号: 4, 页码: 347-350
作者:  Sigumonrong, Darwin P.;  Zhang, Jie;  Zhou, Yanchun;  Music, Denis;  Emmerlich, Jens;  Mayer, Joachim;  Schneider, Jochen M.
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MAX-phase thin film  TEM  Epitaxial growth  Ab initio calculation  
Interfacial structure of V(2)AlC thin films deposited on (11(2)over-bar0)-sapphire 期刊论文
Scripta Materialia, 2011, 卷号: 64, 期号: 4, 页码: 347-350
作者:  D. P. Sigumonrong;  J. Zhang;  Y. C. Zhou;  D. Music;  J. Emmerlich;  J. Mayer;  J. M. Schneider
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Max-phase Thin Film  Tem  Epitaxial Growth  Ab Initio Calculation  Ti-al-c  Electronic-structure  m(n+1)Ax(n) Phases  Ge  Gas