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Characterization of defects and whole wafer uniformity of annealed undoped semi-insulating InP wafers 期刊论文
MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY, 2002, 卷号: 91, 页码: 521-524
作者:  Zhao, YW;  Sun, NF;  Dong, HW;  Jiao, JH;  Zhao, JQ;  Sun, TN;  Lin, LY
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indium phosphide  semi-insulating  annealing  PICTS  photoluminescence