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力电热多场耦合作用下微电子产品可靠性测试平台 专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 201210563644.2, 申请日期: 2017-06-23,
发明人:  崔学顺;  郭敬东;  祝清省;  刘志权;  吴迪;  张磊;  曹丽华
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一种力电热多场耦合下微电子产品可靠性测试方法 专利
专利类型: 发明, 申请日期: 2016-05-25, 公开日期: 2016-05-25
发明人:  郭敬东,祝清省,刘志权,崔学顺,吴迪,张磊,曹丽华
收藏  |  浏览/下载：95/0  |  提交时间：2017/08/22