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Structural and microstructural analyses of crystalline Er2O3 high-k films grown on Si (001) by laser molecular beam epitaxy 期刊论文
ACTA MATERIALIA, 2011, 卷号: 59, 期号: 4, 页码: 1644-1650
作者:  Wang, X.;  Zhu, Y. L.;  He, M.;  Lu, H. B.;  Ma, X. L.
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Thin films  High-resolution electron microscopy  Energy-filtered transmission microscopy  Interface  Dielectrics  
Microstructure tuning of epitaxial BaTiO3 (-) (x) thin films grown using laser molecular-beam epitaxy by varying the oxygen pressure 期刊论文
THIN SOLID FILMS, 2010, 卷号: 518, 期号: 14, 页码: 3669-3673
作者:  Zhu, Y. L.;  Zheng, S. J.;  Chen, D.;  Ma, X. L.
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BaTiO3-x, oxides  Thin films, oxygen pressure, {111} twins, microstructure  X-ray diffraction  Laser molecular beam epitaxy  Transmission electron microscopy  
Dislocations in charge-ordered Pr0.5Ca0.5MnO3 epitaxial thin films prepared by a two-step growth technique 期刊论文
PHILOSOPHICAL MAGAZINE LETTERS, 2010, 卷号: 90, 期号: 5, 页码: 323-336
作者:  Zhu, Y. L.;  Wang, X.;  Zhuo, M. J.;  Zhang, Y. Q.;  Ma, X. L.
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dislocations  transmission electron microscopy  thin films  perovskites  
Microstructural evolution of [PbZrxTi1-xO3/PbZryTi1-yO3](n) epitaxial multilayers (x/y=0.2/0.4, 0.4/0.6) - dependence on layer thickness 期刊论文
PHILOSOPHICAL MAGAZINE, 2010, 卷号: 90, 期号: 10, 页码: 1359-1372
作者:  Zhu, Y. L.;  Zheng, S. J.;  Ma, X. L.;  Feigl, L.;  Alexe, M.;  Hesse, D.;  Vrejoiu, I.
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ferroelectrics  transmission electron microscopy  microstructure