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WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
In-Sn熔体合金与CuZr基块状非晶合金界面生长动力学(英文)
期刊论文
Transactions of Nonferrous Metals Society of China, 2012, 期号: 4, 页码: 837-841
作者:
马国峰
;
张波
;
张海峰
;
胡壮麒
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提交时间:2013/02/23
块状非晶
界面层
动力学
扩散机制
HfO_2/Si(001)界面层的TEM研究
期刊论文
电子显微学报, 2006, 期号: S1, 页码: 95-96
作者:
卓木金
;
马秀良
收藏
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浏览/下载:75/0
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提交时间:2012/04/12
界面层厚度:7807
栅介质层:3216
相对介电常数:2195
薄膜:2048
二氧化硅:1902
氧化铪:1889
透射电子显微镜:1813
等效厚度:1778
退火温度:1778
化学成分:1696
化学气相渗(CVI)C/SiC复合材料性能控制
期刊论文
炭素, 1996, 期号: 3, 页码: 12-17
作者:
魏永良,刘文川,邓景屹
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浏览/下载:99/0
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提交时间:2012/04/12
C/sic复合材料
增强骨架
界面层
基体
材料性能
热解碳界面层对碳\碳化硅复合材料拉伸性能的影响
期刊论文
炭素技术, 1995, 期号: 2, 页码: 6-10
作者:
纪锐,魏永良,刘文川
收藏
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浏览/下载:75/0
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提交时间:2012/04/12
碳界面层:6950
拉伸性能:4629
碳化硅复合材料:4131
陶瓷基复合材料:2141
炭纤维:1532
热解碳:1525
裂纹扩展:1052
断裂功:1016
中科院金属研究所:977
化学气相渗工艺:912