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WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
射频反应溅射制备MgO二次电子发射薄膜
期刊论文
金属学报, 2016, 期号: 1
作者:
王彬
;
熊良银
;
刘实
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浏览/下载:114/0
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提交时间:2016/04/19
射频反应溅射沉积
薄膜厚度
表面粗糙度
二次电子发射系数
耐电子束轰击能力
一种铜膜的制备方法
成果
2005
完成人/完成单位:
卢磊
;
斯晓
;
陶乃熔
;
隋曼龄
;
卢柯
收藏
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浏览/下载:85/0
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提交时间:2013/07/24
铜膜制备
薄膜厚度
纳米材料
晶粒尺寸
磁控溅射Fe-N薄膜的微结构研究
期刊论文
电子显微学报, 2002, 期号: 5, 页码: 645-646
作者:
詹倩,贺连龙,李斗星
收藏
  |  
浏览/下载:58/0
  |  
提交时间:2012/04/12
Fe-n薄膜:7792
微结构表征:4484
溅射:1988
微观结构:1642
高分辨像:1585
沉积时间:1505
材料科学:1481
中国科学院:1384
薄膜厚度:1346
金属研究所:1344
薄膜厚度的电子探针测定
期刊论文
电子显微学报, 1992, 期号: 1, 页码: 26-32
作者:
郭延风
;
徐乐英
;
杨淑华
收藏
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浏览/下载:65/0
  |  
提交时间:2012/04/12
薄膜厚度:4816
电子探针分析:4651
加速电压:3493
归一化:3199
化学分析法:3047
激发深度:2768
质量厚度:2290
测定:1914
公式计算:1851
重量法:1851