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Image matching between experimental and simulated high-resolution electron micrographs of sapphire on the 0(1)over-bar10 orientation 期刊论文
Journal of Microscopy, 2008, 卷号: 232, 期号: 1, 页码: 137-144
作者:  K. Du;  M. Ruhle
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High-resolution Transmission Electron Microscopy  Image Simulation  Quantitative Electron Microscopy  Sapphire  Crystal Defect Structures  Hrem Images  Interfaces  Hrtem  Retrieval  Alpha-al2o3  Microscopy  Evolution  Package  Films  
Quantitative comparison of image contrast and pattern between experimental and simulated high-resolution transmission electron micrographs 期刊论文
Ultramicroscopy, 2007, 卷号: 107, 期号: 4-5, 页码: 281-292
作者:  K. Du;  K. von Hochmeister;  F. Phillipp
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High-resolution Transmission Electron Microscopy  Image Simulation  Atomic-resolution  Noise Transfer  Ccd Cameras  Hrem  Scattering  Microscope  Diffraction  Holography  Package  Signal  
Study of novel electronic packaging material 70%Si-Al prepared by the spray deposition 期刊论文
ACTA METALLURGICA SINICA, 2005, 卷号: 41, 期号: 12, 页码: 1277-1279
作者:  Wang, XF;  Zhao, JZ;  Tian, C
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70%Si-Al alloy  electronics package material  spray deposition  hot isostatic pressing (HIP)  thermal expansion