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WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
Annealing ambient controlled deep defect formation in InP
期刊论文
EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL-APPLIED PHYSICS, 2004, 卷号: 27, 期号: 1-3, 页码: 167-169
作者:
Zhao, YW
;
Dong, ZY
;
Duan, ML
;
Sun, WR
;
Zeng, YP
;
Sun, NF
;
Sun, TN
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提交时间:2021/02/02
Study on the perfection of in situ P-injection synthesis LEC-InP single crystals
期刊论文
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 2004, 卷号: 264, 期号: 1-3, 页码: 17-20
作者:
Zhou, XL
;
Zhao, YW
;
Sun, NF
;
Yang, GY
;
Xu, YQ
;
Sun, TN
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提交时间:2021/02/02
etch-pit density
phosphorus-rich
PL-mapping
indium phosphide
Characterization of defects and whole wafer uniformity of annealed undoped semi-insulating InP wafers
期刊论文
MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY, 2002, 卷号: 91, 页码: 521-524
作者:
Zhao, YW
;
Sun, NF
;
Dong, HW
;
Jiao, JH
;
Zhao, JQ
;
Sun, TN
;
Lin, LY
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提交时间:2021/02/02
indium phosphide
semi-insulating
annealing
PICTS
photoluminescence
Positron-annihilation study of compensation defects in InP
期刊论文
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 2002, 卷号: 91, 期号: 4, 页码: 1998-2001
作者:
Shan, YY
;
Deng, AH
;
Ling, CC
;
Fung, S
;
Ling, CD
;
Zhao, YW
;
Sun, TN
;
Sun, NF
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提交时间:2021/02/02