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Determination of proof stress and strain-hardening exponent for thin film with biaxial residual stresses by in-situ XRD stress analysis combined with tensile test 期刊论文
Surface & Coatings Technology, 2005, 卷号: 192, 期号: 2-3, 页码: 139-144
作者:  M. Qin;  V. Ji;  Y. N. Wu;  C. R. Chen;  J. B. Li
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Proof Stress  Strain-hardening Exponent  Biaxial Stresses  Cu Film  Tin  Film  Tensile Test  In-situ  X-ray Diffraction  Alloy  
Investigation of the relationship between annealing temperature and yield strength in Cu film by in-situ XRD stress analysis method 期刊论文
RESIDUAL STRESSES VII, PROCEEDINGS, 2005, 卷号: 490-491, 页码: 595-600
作者:  Qin, M;  Ji, V;  Wu, YN;  Ma, SY;  Li, JB
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Cu film  annealing temperature  yield strength  biaxial stresses  X-ray tensile test  
A study on residual stress relaxation under quasi-static load 期刊论文
RESIDUAL STRESSES VII, PROCEEDINGS, 2005, 卷号: 490-491, 页码: 430-435
作者:  Qin, M;  Ji, V;  Ma, SY;  Li, JB
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residual stress relaxation  quasi static load  biaxial stress  X-ray tensile test  
Relationship between the yield strength and annealing temperature of a Cu film adherent to substrate 期刊论文
ACTA METALLURGICA SINICA, 2004, 卷号: 40, 期号: 7, 页码: 716-720
作者:  Qin, M;  Ji, V;  Li, JB;  Ma, SY;  Chen, CR;  Song, ZX;  He, JW
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Cu film  biaxial stress  yield strength  annealing temperature  X-ray tensile test  
Stress-strain relationship of a TiN film adherent to substrate 期刊论文
ACTA METALLURGICA SINICA, 2003, 卷号: 39, 期号: 7, 页码: 721-724
作者:  Qin, M;  Ji, N;  Wang, W;  Chen, CR;  Li, JB;  Ma, SL
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TiN film  biaxial stress  stress-strain relation  X-ray tensile test  nanoindentation