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Electromigration anisotropy introduced by tin orientation in solder joints
期刊论文
JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS, 2017, 卷号: 703, 页码: 264-271
作者:
Chen, Jian-Qiang
;
Liu, Kai-Lang
;
Guo, Jing-Dong
;
Ma, Hui-Cai
;
Wei, Song
;
Shang, Jian-Ku
;
Guo, JD (reprint author), Chinese Acad Sci, Shenyang Natl Lab Mat Sci, Inst Met Res, Shenyang 110016, Peoples R China.
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提交时间:2017/08/17
Electromigration
Single Crystal Tin
Cu6sn5
Intermetallic Compounds
Orientation
Diffusion
Crack propagation of single crystal beta-Sn during in situ TEM straining
期刊论文
Journal of Electron Microscopy, 2010, 卷号: 59, 页码: S61-S66
作者:
P. J. Shang
;
Z. Q. Liu
;
D. X. Li
;
J. K. Shang
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提交时间:2012/04/13
In Situ Tem
Straining
Single Crystal Sn
Slip System
Self-diffusion
Crack Propagation
Free Solder Alloys
Lead-free Solders
Thermal Fatigue
Behavior
Creep
Tin
Pb
Joints
Ag
Deformation
A study on the orientation relationship between the scallop-type Cu(6)Sn(5) grains and (011) Cu substrate using electron backscattered diffraction
期刊论文
Journal of Applied Physics, 2009, 卷号: 106, 期号: 11
作者:
H. F. Zou
;
H. J. Yang
;
Z. F. Zhang
Adobe PDF(486Kb)
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提交时间:2012/04/13
Ageing
Copper
Copper Alloys
Electron Backscattering
Electron
Diffraction
Texture
Tin Alloys
Wetting
Lead-free Solders
Interfacial Reactions
Single-crystal
Molten Sn
Growth
Joints