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WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
La_(1-x)Sr_xMnO_3(x=0.1,0.2,0.3)薄膜的微观结构
期刊论文
电子显微学报, 2004, 期号: 4, 页码: 405
作者:
朱银莲,张明,马秀良,李斗星
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浏览/下载:101/0
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提交时间:2012/04/12
微观结构:9258
中国科学院:1857
材料科学:1590
金属研究所:1443
国家实验室:1329
激光分子束外延:1037
脉冲激光沉积:978
点阵参数:950
微畴:880
高分辨电子显微镜:858
SrIn_(0.1)Ti_(0.9)O_3/SrNb_(0.2)Ti_(0.8)O_3双层膜的微结构研究
期刊论文
电子显微学报, 2004, 期号: 4, 页码: 406
作者:
张明,马秀良,李斗星
收藏
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浏览/下载:62/0
  |  
提交时间:2012/04/12
微结构研究:7309
双层膜:4937
钙钛矿结构:1982
Srtio3:1945
材料科学:1683
金属氧化物:1675
中国科学院:1572
金属研究所:1528
激光分子束外延:1464
入射电子束:1373
SrIn<,0.1>Ti<,0.9>O<,3>/SrNb<,0.2>Ti<,0.8>O<,3>双层膜的微结构研究
会议论文
电子显微学报/2004.4, 威海, 2004-08-20
作者:
张明
;
马秀良
;
李斗星
收藏
  |  
浏览/下载:101/0
  |  
提交时间:2013/08/21
微结构
金属氧化物多层膜
分子束外延
电子显微镜
La<,1-x>Sr<,x>MnO<,3>(x=0.1,0.2,0.3)薄膜的微观结构
会议论文
电子显微学报/2004.4, 威海, 2004-08-20
作者:
朱银莲
;
张明
;
马秀良
;
李斗星
收藏
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浏览/下载:75/0
  |  
提交时间:2013/08/21
La<
1-x>sr<
微观结构
X>mno<
电子显微镜
3>薄膜
分子束外延技术
分子束外延生长GaN薄膜中的一种早期位错结构
期刊论文
物理学报, 1998, 期号: 11, 页码: 99-102
作者:
王绍青,刘全朴,叶恒强
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浏览/下载:66/0
  |  
提交时间:2012/04/12
外延生长:6883
Gan薄膜:3266
分子束外延:3157
原子像:2762
晶体缺陷:2559
高分辨率电子显微镜:2280
位错结构:2195
缺陷结构:1988
刃型:1409
电子显微术:1354
六角GaN薄膜中的晶体缺陷结构研究
期刊论文
电子显微学报, 1998, 期号: 5, 页码: 85-86
作者:
王绍青,刘全朴,王元明
收藏
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浏览/下载:80/0
  |  
提交时间:2012/04/12
晶体缺陷:6491
Gan薄膜:5257
分子束外延:2966
原子像:2587
高分辨:2548
位错结构:1896
电子显微镜:1364
刃型:1099
外延生长:895
缺陷结构:872
InSb/GaAs界面的高分辨电镜研究
期刊论文
电子显微学报, 1993, 期号: 2, 页码: 146
作者:
孟祥敏
;
曾一平
;
胡魁毅
;
吴玉琨
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浏览/下载:78/0
  |  
提交时间:2012/04/12
分子束外延法:4080
错配度:3919
高质量薄膜:3563
界面区:3438
电子平均自由程:3198
电子衍射图:2991
外延生长:2527
光电器件:2501
高分辨象:2498
取向:2324
热解氮化硼坩埚的研制及其在分子束外延中的应用
期刊论文
硅酸盐通报, 1986, 期号: 5, 页码: 28-33
作者:
赵凤鸣
;
黄运衡
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浏览/下载:76/0
  |  
提交时间:2012/04/12
分子束外延:7080
氮化硼:3372
真空性能:3096
物理和化学性能:2656
七十年:2046
热解:2038
六十年代:1912
陶瓷材料:1835
单晶薄膜:1815
喷射炉:1784
热解氮化硼在分子束外延中的应用
期刊论文
真空科学与技术, 1985, 期号: 4, 页码: 59-62
作者:
黄运衡
;
赵凤鸣
收藏
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浏览/下载:56/0
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提交时间:2012/04/12
分子束外延生长:7211
氮化硼:4324
热解:2616
纯度:2045
真空性能:1927
陶瓷材料:1824
源材料:1781
单晶薄膜:1763
高纯石墨:1681
火花源质谱:1449
热解氮化硼(PBN)坩埚的研制及在分子束外延中的应用
期刊论文
稀有金属, 1985, 期号: 1, 页码: 1-3
作者:
赵凤呜,黄运衡
收藏
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浏览/下载:168/0
  |  
提交时间:2012/04/12
分子束外延:9068
氮化硼:3656
热解:876
工艺流程:861
坩埚:772
单晶薄膜:708
载流子浓度:699
新型陶瓷材料:695
液相外延:652
电子迁移率:627