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电场作用下CSP的失效行为 期刊论文
沈阳航空航天大学学报, 2014, 期号: 2, 页码: 43-46
Authors:  刘春忠;  崔献威;  吴迪;  刘志权
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电迁移  无铅焊球  金属间化合物  芯片级封装