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一种高密度电路板中微细盲孔的铜电镀填充方法
专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 201610265605.2, 申请日期: 2019-10-22,
发明人:
祝清省、祝汉品、崔学顺、张贤
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浏览/下载:86/0
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提交时间:2021/03/01
一种定向生长的铜柱凸点互连结构及其制备方法
专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 201410709245.1, 申请日期: 2018-04-24,
发明人:
刘志权
;
孙福龙
;
李财富
;
祝清省
;
郭敬东
收藏
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浏览/下载:186/0
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提交时间:2021/02/02
Failure behavior of flip chip solder joint under coupling condition of thermal cycling and electrical current
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS, 2018, 卷号: 29, 期号: 6, 页码: 5025-5033
作者:
Zhu, QS
;
Gao, F
;
Ma, HC
;
Liu, ZQ
;
Guo, JD
;
Zhang, L
;
Zhu, QS (reprint author), Chinese Acad Sci, Shenyang Natl Lab Mat Sci, Inst Met Res, Shenyang 110016, Liaoning, Peoples R China.
收藏
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浏览/下载:110/0
  |  
提交时间:2018/06/05
Stress-relaxation
Void Formation
Electromigration
Reliability
Sn
Interconnections
Thermomigration
Metallization
Mechanisms
Diffusion
Bottom-Up Electrodeposition of Large-Scale Nanotwinned Copper within 3D Through Silicon Via
期刊论文
MATERIALS, 2018, 卷号: 11, 期号: 2, 页码: -
作者:
Sun, FL
;
Liu, ZQ
;
Li, CF
;
Zhu, QS
;
Zhang, H
;
Suganuma, K
;
Zhu, QS (reprint author), Chinese Acad Sci, Inst Met Res, Shenyang 110016, Liaoning, Peoples R China.
;
Liu, ZQ (reprint author), Univ Chinese Acad Sci, Beijing 100049, Peoples R China.
;
Liu, ZQ (reprint author), Osaka Univ, Inst Sci & Ind Res, Osaka 5670047, Japan.
收藏
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浏览/下载:109/0
  |  
提交时间:2018/06/05
Columnar-grained Cu
Twins
Boundaries
Nanoscale
Strength
Behavior
Joints
一种以FeP合金作为接焊层的凸点封装结构
专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 201310416014.7, 申请日期: 2017-09-26,
发明人:
郭敬东
;
周海飞
;
祝清省
;
刘志权
收藏
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浏览/下载:106/0
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提交时间:2021/02/02
一种以FeNi合金或FeNiP合金作为反应界面层的柱状凸点封装结构
专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 201310415003.7, 申请日期: 2017-08-25,
发明人:
刘志权
;
郭敬东
;
祝清省
;
曹丽华
收藏
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浏览/下载:137/0
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提交时间:2021/02/02
力电热多场耦合作用下微电子产品可靠性测试平台
专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 201210563644.2, 申请日期: 2017-06-23,
发明人:
崔学顺
;
郭敬东
;
祝清省
;
刘志权
;
吴迪
;
张磊
;
曹丽华
收藏
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浏览/下载:134/0
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提交时间:2021/02/02
一种基于化学镀镍合金的通孔填充方法及其应用
专利
专利类型: 发明专利, 专利号: 201210570600.2, 申请日期: 2017-03-29,
发明人:
祝清省
;
刘志权
;
郭敬东
;
张磊
;
曹丽华
收藏
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浏览/下载:127/0
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提交时间:2021/02/02
高浓度、高性能Pd胶体的制备及其活化机理
期刊论文
金属学报, 2017, 卷号: 53, 期号: 4, 页码: 487-493
作者:
屈硕硕
;
祝清省
;
巩亚东
;
杨玉莹
;
李财富
;
高世安
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浏览/下载:131/0
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提交时间:2021/02/02
Pd胶体
化学镀
活化
The reliability of copper pillar under the coupling of thermal cycling and electric current stressing
期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS, 2016, 卷号: 27, 期号: 9, 页码: 9748-9754
作者:
Ma, HC
;
Guo, JD
;
Chen, JQ
;
Wu, D
;
Liu, ZQ
;
Zhu, QS
;
Zhang, L
;
Guo, HY
;
Guo, JD (reprint author), Chinese Acad Sci, Shenyang Natl Lab Mat Sci, Inst Met Res, Shenyang 110016, Peoples R China.
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浏览/下载:98/0
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提交时间:2016/12/28